宮崎誠一

広大研究者総覧

登録番号 (降順)

飛行時間測定法を用いた中速イオン散乱法の開発と半導体プロセス評価への応用

作成者	横山新 \| 廣瀬全孝 \| 宮崎誠一 \| 桜田勇蔵
雑誌
発行日

New theory of effective work functions at metal/high-k dielectric interfaces : application to metal/high-k HfO2 and la2O 3 dielectric interfaces

作成者	Shiraishi Kenji \| Nakayama Takashi \| Akasaka Yasushi \| Miyazaki Seiichi \| Nakaoka Takashi \| Ohmori Kenji \| Ahmet Parhat \| Torii Kazuyoshi \| Watanabe Heiji \| Chikyow Toyohiro \| Nara Yasuo \| Iwai Hiroshi \| Yamada Keisaku
雑誌	ECS Transactions 2 巻 1 号 pp. 25 - 40
発行日	2006 発行

Characterization of Electronic Charged States of Si-Based Quantum Dots and Their Application to Floating Gate Memories

作成者	Miyazaki Seiichi \| Ikeda Mitsuhisa \| Makihara Katsunori
雑誌	ECS Transactions 2 巻 1 号 pp. 157 - 164
発行日	2006 発行

Depth Profiling of Chemical and Electronic Structures and Defects of Ultrathin HfSiON on Si(100)

作成者	Miyazaki Seiichi \| Ohta Akio \| Inumiya Seiji \| Nara Yasuo \| Yamada Keisaku
雑誌	ECS Transactions 3 巻 3 号 pp. 171 - 180
発行日	2006 発行