Low Specific Contact Resistance and High-Temperature Reliability of Ni/Nb Ohmic Contacts on 4H-SiC for Harsh Environment Applications
アクセス数 : 413 件
ダウンロード数 : 172 件
今月のアクセス数 : 0 件
今月のダウンロード数 : 0 件
この文献の参照には次のURLをご利用ください : https://ir.lib.hiroshima-u.ac.jp/00049458
File |
k8161_1.pdf
108 KB
種類 :
abstract
|
File |
k8161_2.pdf
209 KB
種類 :
abstract
|
File |
k8161_4.pdf
132 KB
種類 :
summary
|
Title ( eng ) |
Low Specific Contact Resistance and High-Temperature Reliability of Ni/Nb Ohmic Contacts on 4H-SiC for Harsh Environment Applications
|
Title ( jpn ) |
極限環境応用のための4H-SiC半導体上の低抵抗・高信頼Ni/Nbオーミック接触形成
|
Creator |
Vuong Cuong Van
|
Descriptions |
内容の要約
|
Language |
eng
|
Resource Type | doctoral thesis |
Access Rights | open access |
Dissertation Number | 甲第8161号 |
Degree Name | |
Date of Granted | 2020-03-23 |
Degree Grantors |
広島大学
|