Low Specific Contact Resistance and High-Temperature Reliability of Ni/Nb Ohmic Contacts on 4H-SiC for Harsh Environment Applications
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Title ( eng ) |
Low Specific Contact Resistance and High-Temperature Reliability of Ni/Nb Ohmic Contacts on 4H-SiC for Harsh Environment Applications
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Title ( jpn ) |
極限環境応用のための4H-SiC半導体上の低抵抗・高信頼Ni/Nbオーミック接触形成
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Creator |
Vuong Cuong Van
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Descriptions |
内容の要約
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Language |
eng
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Resource Type | doctoral thesis |
Access Rights | open access |
Dissertation Number | 甲第8161号 |
Degree Name | |
Date of Granted | 2020-03-23 |
Degree Grantors |
広島大学
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