Polarimetric performance of Si/CdTe semiconductor Compton camera
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment 622 巻 3 号
619-627 頁
2010-10-21 発行
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| ファイル情報(添付) | |
| タイトル ( eng ) |
Polarimetric performance of Si/CdTe semiconductor Compton camera
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| 作成者 |
Takeda Shin'ichiro
Odaka Hirokazu
Katsuta Junichiro
Ishikawa Shin-nosuke
Sugimoto So-ichiro
Koseki Yuu
Watanabe Shin
Sato Goro
Kokubun Motohide
Takahashi Tadayuki
Nakazawa Kazuhiro
Tajima Hiroyasu
Toyokawa Hidenori
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| 収録物名 |
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment
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| 巻 | 622 |
| 号 | 3 |
| 開始ページ | 619 |
| 終了ページ | 627 |
| 抄録 |
A Compton camera has been developed based on Si and CdTe semiconductor detectors with high spatial and spectral resolution for hard X- and gamma-ray astrophysics applications. A semiconductor Compton camera is also an excellent polarimeter due to its capability to precisely measure the Compton scattering azimuth angle, which is modulated by linear polarization. We assembled a prototype Compton camera and conducted a beam test using nearly 100% linearly polarized gamma-rays at SPring-8.
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| 著者キーワード |
Gamma-ray astronomy
Compton camera
Polarimeter
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| NDC分類 |
天文学・宇宙科学 [ 440 ]
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| 言語 |
英語
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| 資源タイプ | 学術雑誌論文 |
| 出版者 |
Elsevier Science BV
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| 発行日 | 2010-10-21 |
| 権利情報 |
Copyright (c) 2010 Elsevier B.V.
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| 出版タイプ | Author’s Original（十分な品質であるとして、著者から正式な査読に提出される版） |
| アクセス権 | オープンアクセス |
| 収録物識別子 |
[ISSN] 0168-9002
[DOI] 10.1016/j.nima.2010.07.077
[NCID] AA10529991
[DOI] http://dx.doi.org/10.1016/j.nima.2010.07.077
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