Low Specific Contact Resistance and High-Temperature Reliability of Ni/Nb Ohmic Contacts on 4H-SiC for Harsh Environment Applications
アクセス数 : 421 件
ダウンロード数 : 179 件
今月のアクセス数 : 6 件
今月のダウンロード数 : 6 件
この文献の参照には次のURLをご利用ください : https://ir.lib.hiroshima-u.ac.jp/00049458
| ファイル情報(添付) | |
| ファイル情報(添付) | |
| ファイル情報(添付) | |
| タイトル ( eng ) |
Low Specific Contact Resistance and High-Temperature Reliability of Ni/Nb Ohmic Contacts on 4H-SiC for Harsh Environment Applications
|
| タイトル ( jpn ) |
極限環境応用のための4H-SiC半導体上の低抵抗・高信頼Ni/Nbオーミック接触形成
|
| 作成者 |
Vuong Cuong Van
|
| 内容記述 |
内容の要約
|
| 言語 |
英語
|
| 資源タイプ | 博士論文 |
| アクセス権 | オープンアクセス |
| 学位授与番号 | 甲第8161号 |
| 学位名 | |
| 学位授与年月日 | 2020-03-23 |
| 学位授与機関 |
広島大学
|
