Analysis of Radiation-Induced Clustered DNA Damage by Atomic Force Microscopy
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| タイトル ( eng ) |
Analysis of Radiation-Induced Clustered DNA Damage by Atomic Force Microscopy
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| タイトル ( jpn ) |
原子間力顕微鏡を用いた放射線誘発クラスターDNA損傷の解析
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| 作成者 |
Xu Xu
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| 内容記述 |
内容の要約
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| 言語 |
英語
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| 資源タイプ | 博士論文 |
| アクセス権 | オープンアクセス |
| 学位授与番号 | 甲第8106号 |
| 学位名 | |
| 学位授与年月日 | 2020-03-03 |
| 学位授与機関 |
広島大学
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