Current Oscillations and Domain Instability in Semiconductors
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ID | 33801 |
本文ファイル | |
別タイトル | 半導体における電流振動とドメイン不安定性
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著者 |
生塩 研一
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NDC |
電気工学
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目次 | Abstract / p2
Contents / p4 1 Introduction / p1 1.1 Negative Differential Conductivity(NDC) / p2 1.2 Gunn effect / p3 1.3 Gunn effect with impact ionization / p6 1.4 Recombination instability / p7 1.5 Chaos in semiconductors / p8 1.6 Composition of following chapters / p9 2 Chaotic current oscillations in the Gunn-effect device under the dc and the rf bias voltages / p13 2.1 Introduction / p13 2.2 Equations of motion and the method of solution / p14 2.3 The motion under the dc bias voltage / p18 2.4 The motion under the dc and rf bias voltage / p20 3 Non-periodic current oscillations in the Gunn-effect device with the impact-ionization effect / p33 3.1 Introduction / p33 3.2 Equations of motion and the method of solution / p34 3.3 Simulational results / p38 4 Current oscillations induced by recombination instability in semiconductors / p49 4.1 Introduction / p49 4.2 Equations of motion and simulation method / p49 4.3 Simulational results / p54 5 Summary and conclusion / p71 |
SelfDOI | |
言語 |
英語
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NII資源タイプ |
学位論文
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広大資料タイプ |
学位論文
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DCMIタイプ | text
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フォーマット | application/pdf
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著者版フラグ | ETD
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権利情報 | Copyright(c) by Author
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学位記番号 | 甲第1436号
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授与大学 | 広島大学(Hiroshima University)
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学位名 | 博士(理学)
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学位名の英名 | Physical Science
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学位の種類の英名 | doctoral
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学位授与年月日 | 1996-03-26
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部局名 |
理学研究科
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