ID 33801
本文ファイル
別タイトル
半導体における電流振動とドメイン不安定性
著者
生塩 研一
NDC
電気工学
目次
Abstract / p2
Contents / p4
1 Introduction / p1
 1.1 Negative Differential Conductivity(NDC) / p2
 1.2 Gunn effect / p3
 1.3 Gunn effect with impact ionization / p6
 1.4 Recombination instability / p7
 1.5 Chaos in semiconductors / p8
 1.6 Composition of following chapters / p9
2 Chaotic current oscillations in the Gunn-effect device under the dc and the rf bias voltages / p13
 2.1 Introduction / p13
 2.2 Equations of motion and the method of solution / p14
 2.3 The motion under the dc bias voltage / p18
 2.4 The motion under the dc and rf bias voltage / p20
3 Non-periodic current oscillations in the Gunn-effect device with the impact-ionization effect / p33
 3.1 Introduction / p33
 3.2 Equations of motion and the method of solution / p34
 3.3 Simulational results / p38
4 Current oscillations induced by recombination instability in semiconductors / p49
 4.1 Introduction / p49
 4.2 Equations of motion and simulation method / p49
 4.3 Simulational results / p54
5 Summary and conclusion / p71
SelfDOI
言語
英語
NII資源タイプ
学位論文
広大資料タイプ
学位論文
DCMIタイプ
text
フォーマット
application/pdf
著者版フラグ
ETD
権利情報
Copyright(c) by Author
学位記番号
甲第1436号
授与大学
広島大学(Hiroshima University)
学位名
博士(理学)
学位名の英名
Physical Science
学位の種類の英名
doctoral
学位授与年月日
1996-03-26
部局名
理学研究科