このエントリーをはてなブックマークに追加
ID 50296
本文ファイル
k8286_1.pdf 102 KB
k8286_2.pdf 144 KB
k8286_3.pdf 7.24 MB
別タイトル
V20Ti32Cr48合金による熱化学水素圧縮中の劣化の臨界条件
著者
Guo Fangqin
言語
英語
NII資源タイプ
学位論文
広大資料タイプ
学位論文
DCMIタイプ
text
フォーマット
application/pdf
著者版フラグ
ETD
学位記番号
甲第8286号
授与大学
広島大学(Hiroshima University)
学位名
博士(学術)
学位名の英名
Doctor of Philosophy
学位の種類の英名
doctoral
学位授与年月日
2020-09-02
部局名
総合科学研究科