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ID 25331
本文ファイル
別タイトル
Accuracy change according to the number of learning samples for view-based pose estimation
著者
奥川 裕之
原田 健吾
天野 敏之
NDC
電気工学
掲載誌名
第10回IEEE広島支部学生シンポジウム(HISS)論文集
開始ページ
98
終了ページ
71
出版年月日
2008-11
出版者
IEEE広島支部学生シンポジウム(HISS)
言語
日本語
NII資源タイプ
会議発表論文
広大資料タイプ
会議発表論文
DCMIタイプ
text
フォーマット
application/pdf
著者版フラグ
publisher
権利情報
Copyright (c) 2008 Authors
関連情報URL
部局名
工学研究科



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