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ID 37631
本文ファイル
Thumnail K6668_3.pdf 2.16 MB
Thumnail k6668_1.pdf 171 KB
Thumnail k6668_2.pdf 143 KB
別タイトル
フラットパネルディスプレイ製造工程におけるニューラルネットワークに基づく欠陥検査過程
著者
Hapu Arachchilage Abeysundara
NDC
技術・工学
言語
英語
NII資源タイプ
学位論文
広大資料タイプ
学位論文
DCMIタイプ
text
フォーマット
application/pdf
著者版フラグ
ETD
学位記番号
甲第6668号
授与大学
広島大学(Hiroshima University)
学位名
博士(工学)
学位名の英名
Doctor of Engineering
学位の種類の英名
doctoral
学位授与年月日
2015/03/23
部局名
工学研究科