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ID 33914
本文ファイル
著者
Kim, Sunghun
Ye, Mao
Kuroda, Kenta
Yamada, Yohei
Krasovskii, E. E.
Chulkov, E. V.
Ueda, Yoshifumi
NDC
物理学
抄録(英)
We have performed scanning tunneling microscopy and differential tunneling conductance (dI/dV) mapping for the surface of the three-dimensional topological insulator Bi2Se3. The fast Fourier transformation applied to the dI/dV image shows an electron interference pattern near Dirac node despite the general belief that the backscattering is well suppressed in the bulk energy gap region. The comparison of the present experimental result with theoretical surface and bulk band structures shows that the electron interference occurs through the scattering between the surface states near the Dirac node and the bulk continuum states.
掲載誌名
Physical Review Letters
107巻
05号
開始ページ
056803
出版年月日
2011
出版者
American Physical Society
ISSN
0031-9007
NCID
出版者DOI
言語
英語
NII資源タイプ
学術雑誌論文
広大資料タイプ
学術雑誌論文
DCMIタイプ
text
フォーマット
application/pdf
著者版フラグ
publisher
権利情報
(c) 2011 American Physical Society
関連情報URL
部局名
理学研究科
放射光科学研究センター