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ID 18827
本文ファイル
著者
Takase, Kouichi
Sato, Ken
Shoji, Osamu
Takano, Yoshiki
Sekizawa, Kazuko
Goto, Manabu
抄録(英)
The charge density distributions of layered oxysulfide (LaO)CuS, known as a p-type transparent semiconductor, have been investigated by analyzing the synchrotron radiation powder diffraction profile with the maximum entropy method/Rietveld method. The bonding character of the Cu–S bond is revealed to be covalent. Meanwhile, the O–La bonding has both ionic and covalent characters. The number of electrons estimated by integrating the charge density around each atom gave direct evidence that each CuS and LaO layer is electrically almost neutral.
掲載誌名
Applied Physics Letters
90巻
16号
開始ページ
161916-1
終了ページ
161916-3
出版年月日
2007-04-19
出版者
American Institute of Physics
ISSN
0003-6951
NCID
出版者DOI
言語
英語
NII資源タイプ
学術雑誌論文
広大資料タイプ
学術雑誌論文
DCMIタイプ
text
フォーマット
application/pdf
著者版フラグ
publisher
権利情報
Copyright (c) 2007 American Institute of Physics.
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部局名
理学研究科